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超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8010自2012年7月28日起正式全面對(duì)外開放

時(shí)間:2012-07-27作者:admin瀏覽次數(shù):

  超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

       超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SU8010在使用1kv減速電壓后, undefined分辨率可提升到1.3nm,能對(duì)各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、反射電子像進(jìn)行觀察及圖像處理。可對(duì)金屬、陶瓷、巖石礦物、生物等樣品及各種固體材料進(jìn)行觀察和分析研究。電鏡配有高性能X射線能量色散譜儀,簡(jiǎn)稱能譜儀(EDS),能在不損壞樣品的同時(shí)進(jìn)行樣品表層的微區(qū)點(diǎn)、線、面元素的定性、定量分析。具有形貌、化學(xué)組分綜合分析能力。

一、儀器簡(jiǎn)介:

   1、廠家型號(hào):

       (1)國(guó)別廠家:日本日立公司

       (2)型        號(hào):SU8010

       (3)到貨日期:2012年6月25日

       (4)儀器價(jià)格:2,800,000.00元

   2、主要技術(shù)特點(diǎn):

       (1)優(yōu)秀的低加速電壓成像能力,1kv分辨率可達(dá)1.3nm;

       (2)Upper探頭可選擇接受二次電子像或背散射電子像;

       (3)可以根據(jù)樣品類型和觀測(cè)要求選擇打開或者關(guān)閉減速功能;

       (4)標(biāo)配有冷指、電子槍內(nèi)置加熱器,物鏡光闌具有自清潔功能。 undefined

  3、主要技術(shù)指標(biāo):

       (1)加速電壓:0.1~30kv;

       (2)顯示倍率:30~1,200,000

       (3)二次電子分辨率:

                          1.0 nm (加速電壓15 kv)

                           1.3 nm (加速電壓1kv)

       (4)工作距離:0.5~30 mm

  4、主要附件:

       X射線能量色散譜儀,簡(jiǎn)稱能譜儀(EDS),探測(cè)元素范圍:B4~U92

   5、主要功能:

       (1)觀測(cè)塊狀金屬(不包括磁性材料)、非金屬固體材料、纖維、薄膜的表面或斷面的微區(qū)形貌;

       (2)微粒或纖維形狀的觀察及尺寸分析;

       (3)材料及電子器件失效分析的測(cè)試;

       (4)高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無(wú)機(jī)或有機(jī)固 undefined體材料成分分析;      

       (5)進(jìn)行材料表面微區(qū)成分的定性、定量分析,在材料表面做元素的點(diǎn)、線、面分布分析。

       (6)礦物學(xué)研究;

            a、土壤分析:觀測(cè)粘土礦物的轉(zhuǎn)變過程,判斷粘土礦物成因。

            b、礦物成因,沉積史,沉積相分析:觀測(cè)各類微細(xì)礦物的形態(tài)及表面微細(xì)結(jié)構(gòu),對(duì)穩(wěn)定礦物的表面特征進(jìn)行研究,可追溯礦物的成因、沉積史及沉積相,重塑地質(zhì)作用過程。

       (7)儲(chǔ)集層研究;

            a、油氣層中地層微粒研究:場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡能給出孔隙系統(tǒng)中微粒的類型、大小、含量、共生關(guān)系的資料,能有效的估計(jì)地層流體的臨界流速和速敏程度,便于有針對(duì)性地采取措施防止或解除因分散、運(yùn)移造成的損害。

             b、油氣層孔喉的觀測(cè):場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡立體感強(qiáng),更適于觀察孔喉的形態(tài)、大小、及與孔隙的連通關(guān)系。對(duì)孔喉表面的粗糙度、彎曲度、孔喉尺寸的觀測(cè)能揭示微粒的捕集、攔截的位置及難易程度,對(duì)研究微粒的運(yùn)移和外來固相侵入有重要的意義。

             c、油氣層損害的監(jiān)測(cè):利用背散射電子圖像,對(duì)無(wú)機(jī)和有機(jī)垢的晶體形態(tài)、排布關(guān)系的觀察,可以為抑垢、 除垢、篩選處理劑、優(yōu)化工藝提供依據(jù)。

       (8)工程地質(zhì)研究;

              a、活斷層的判斷:根據(jù)斷層泥中石英的表面微結(jié)構(gòu),判斷活斷層的活動(dòng)時(shí)代、活動(dòng)方式及活動(dòng)次數(shù)。  

              b、滑坡穩(wěn)定性的研究:根據(jù)滑坡滑帶土的微結(jié)構(gòu),判斷滑坡的活動(dòng)階段、活動(dòng)次數(shù)及活動(dòng)方向,進(jìn)而判斷滑坡的穩(wěn)定性。

   6、應(yīng)用領(lǐng)域:

       廣泛應(yīng)用于物理、化學(xué)、生物、地學(xué)、礦物、金屬、半導(dǎo)體、陶瓷、高分子、復(fù)合材料、納米材料等領(lǐng)域的研究和產(chǎn)品檢驗(yàn)。

二、開放時(shí)間:儀器實(shí)行專人管理,全面開放的管理模式,周一至周日全天(24小時(shí))開放。

三、聯(lián)系人:王洪權(quán)  電話:027-67847625 或18986153550  郵箱:tang332294@163.com  

四、地址:湖北省武漢市洪山區(qū)魯磨路388號(hào)中國(guó)地質(zhì)大學(xué)材料與化學(xué)學(xué)院(材化樓)105室。                

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